EDX600镀层测厚仪（X荧光测厚仪）

EDX600镀层测厚仪性能特点
EDX600 X荧光测厚仪专业贵金属检测、镀层厚度检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上。
智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。

技术指标
元素分析范围：从钾（K）到铀（U）。
测量对象：固体、液体、粉末
分析检出限可达：1ppm。
分析含量一般为：1ppm到99.9％。
多次测量重复性可达：0.1％。
长期工作稳定性为：0.1％。
标准配置
单样品腔。
激光定位装置。
正比计数盒探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
应用领域
黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。
JD-主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

硬件

主机壹台，含下列主要部件：
（1） X光管
（2） 正比计数器
（3） 放大电路
（4） 高清晰摄像头
（5） 高压系统
（6） 单样品腔
2.2 软件
X荧光光谱仪厚度分析软件V1.0
2.3 计算机、打印机各一台
计算机（品牌，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）
2.4 资料
仪器使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。
2.5 标准附件
准直孔：Ф1.0mm
工作环境要求
3.1 环境温度要求：15℃-30℃
3.2 环境相对湿度：<70%
3.3 工作电源：交流220±5V（建议配置交流净化稳压电源）
3.4 周围不能有强电磁干扰。
技术指标
4.1 分析元素范围：K-U
4.2 测量精度：0.1μm
4.3 高压：5kV-50kV
4.4 管流：50μA-1000μA
4.5 测量时间：60s-300s
4.6计数率：1300-8000cps