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产品名称:Thick680镀层测厚仪

产品型号:X荧光测厚仪

更新时间:2023-12-02

产品特点:Thick680镀层测厚仪(X荧光测厚仪)
是根据多年的贵金属检测技术和经验,Thick 680镀层测厚仪以*的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要,人性化的设计,Thick 680镀层测厚仪使测试工作更加轻松完成

X荧光测厚仪Thick680镀层测厚仪的详细资料:


Thick680镀层测厚仪(X荧光测厚仪)


Thick680镀层测厚仪是根据多年的贵金属检测技术和经验,Thick 680镀层测厚仪以*的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要,人性化的设计,Thick 680镀层测厚仪使测试工作更加轻松完成

Thick 680镀层测厚仪性能特点

专业贵金属检测
内置信噪比增强器,可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
智能贵金属软件,与仪器相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型
多变量非线性回收程序
Thick 680镀层测厚仪技术指标
X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等
X射线管:管电压50KV,管电流1mA
可测元素:Ti~U
检测器:正比计数管
样品观察:CCD摄像头
测定软件:薄膜FP法、检量线法
Z轴程控移动高度 20mm
Thick 680镀层测厚仪标准配置
X射线管,正比记数盒,高清摄像头,高度激光,信号检测电子电路。
Thick 680镀层测厚仪应用领域
大型线路板,大型板材,镀层厚度测试,快速测定:660mm纵深;
黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测;主要用于贵金属加工和首饰加工行业

X荧光测厚仪EDX680技术指标
元素分析范围:从钾(K)到铀(U)。
测量对象:固体、液体、粉末
分析检出限可达:1ppm。
分析含量一般为:1ppm到99.9%。
多次测量重复性可达:0.1%。
长期工作稳定性为:0.1%。
EDX680镀层测厚仪标准配置
单样品腔。
激光定位装置。
正比计数盒探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。

硬件
主机壹台,含下列主要部件:
(1) X光管(2) 正比计数器
(3) 放大电路(4) 高清晰摄像头
(5) 高压系统(6) 单样品腔
软件
X荧光光谱仪厚度分析软件V1.0;计算机、打印机各一台
计算机(品牌,P4,液晶显示屏)、打印机(佳能,彩色喷墨打印机)
资料
仪器使用说明书(包括软件操作说明书和硬件使用说明书)、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。
标准附件准直孔:Ф1.0mm

EDX680镀层测厚仪工作环境要求

环境温度要求:15℃-30℃
环境相对湿度:<70%
工作电源:交流220±5V(建议配置交流净化稳压电源)
周围不能有强电磁干扰。
EDX680镀层测厚仪技术指标
分析元素范围:K-U
测量精度:0.1μm
高压:5kV-50kV
管流:50μA-1000μA
测量时间:60s-300s
计数率:1300-8000cps


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