产品名称:Thick680镀层测厚仪
产品型号:X荧光测厚仪
更新时间:2023-12-02
产品特点:Thick680镀层测厚仪(X荧光测厚仪)
是根据多年的贵金属检测技术和经验,Thick 680镀层测厚仪以*的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要,人性化的设计,Thick 680镀层测厚仪使测试工作更加轻松完成
X荧光测厚仪Thick680镀层测厚仪的详细资料:
Thick680镀层测厚仪(X荧光测厚仪)
Thick680镀层测厚仪是根据多年的贵金属检测技术和经验,Thick 680镀层测厚仪以*的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要,人性化的设计,Thick 680镀层测厚仪使测试工作更加轻松完成
Thick 680镀层测厚仪性能特点
专业贵金属检测
内置信噪比增强器,可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
智能贵金属软件,与仪器相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型
多变量非线性回收程序
Thick 680镀层测厚仪技术指标
X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等
X射线管:管电压50KV,管电流1mA
可测元素:Ti~U
检测器:正比计数管
样品观察:CCD摄像头
测定软件:薄膜FP法、检量线法
Z轴程控移动高度 20mm
Thick 680镀层测厚仪标准配置
X射线管,正比记数盒,高清摄像头,高度激光,信号检测电子电路。
Thick 680镀层测厚仪应用领域
大型线路板,大型板材,镀层厚度测试,快速测定:660mm纵深;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测;主要用于贵金属加工和首饰加工行业
X荧光测厚仪EDX680技术指标 元素分析范围:从钾(K)到铀(U)。 测量对象:固体、液体、粉末 分析检出限可达:1ppm。 分析含量一般为:1ppm到99.9%。 多次测量重复性可达:0.1%。 长期工作稳定性为:0.1%。 |
EDX680镀层测厚仪标准配置 单样品腔。 激光定位装置。 正比计数盒探测器。 信号检测电子电路。 高低压电源。 X光管。 硬件 |
EDX680镀层测厚仪工作环境要求环境温度要求:15℃-30℃ |
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