产品名称:涂镀层测厚仪TT260A
产品型号:
更新时间:2023-12-02
产品特点:涂层测厚仪TT260A是一种经济实用型便携式测量仪,涂镀层测厚仪TT260A它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。TT260A涂层测厚仪既可用于实验室,也可用于工程现场。通过使用不同的测头,还可满足多种测量的需要。TT260A涂层测厚仪能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业*的仪器
涂镀层测厚仪TT260A的详细资料:
涂层测厚仪TT260A,涂镀层测厚仪TT260A
TT260A涂层测厚仪是一种经济实用型便携式测量仪,TT260A涂镀层测厚仪它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。TT260A涂层测厚仪既可用于实验室,也可用于工程现场。通过使用不同的测头,还可满足多种测量的需要。TT260A涂层测厚仪能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业*的仪器。
TT260A涂层测厚仪的详细介绍
TT260A涂层测厚仪使用了全金属外壳结构,更加坚固耐用,测值精准稳定,价格经济实惠!
TT260A与TT260比:标准配置增加了通讯软件和电缆可以用电脑上的打印机整理打印报告,去掉了随机打印机,价格低廉!
TT260A涂层测厚仪符合以下标准:
GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法
GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法
JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪
JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》
JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》
TT260A涂层测厚仪特点:
采用了磁性和涡流两种测厚方法,即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;
可使用10种测头(F400、F1、F1/90°、F5、F10、N400、N1、N1/90°、CN02、N10);
具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(A-B);
设有五个统计量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);
可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;
具有存贮功能:可存贮495个测量值;
具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量;
可设置限界:对限界外的测量值能自动报警;
具有电源欠压指示功能;
操作过程有蜂鸣声提示;
设有两种关机方式:手动关机方式和自动关机方式;
TT260A涂层测厚仪原理
TT260A 涂层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铬、锌、铜、铝、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
a) 磁性法(F型测头)
当测头与覆盖层接触时,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。
b) 涡流法(N型测头)
利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场,当测头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,并对测头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。
TT260A涂层测厚仪技术参数表
测头型号 |
F400 |
F1 |
F1/90° |
F5 |
F10 |
||||
工作原理 |
磁 感 应 |
||||||||
测量范围(um) |
0~400 |
0~1250 |
0~5000 |
0~10000 |
|||||
低限分辨力(um) |
0.1 |
0.1 |
1 |
10 |
|||||
示值 误差 |
一点校准(um) |
±(3%H+1) |
±(3%H+5) |
±(3%H+10) |
|||||
二点校准(um) |
±((1~3)%H+0.7) |
±((1~3)%H+1) |
±((1~3)%H+5) |
±((1~3)%H+10) |
|||||
测 试 条 件 |
zui小曲率半径(mm) |
凸 |
1 |
1.5 |
平直 |
5 |
10 |
||
zui小面积的直径(mm) |
F3 |
F7 |
F7 |
F20 |
F40 |
||||
基体临界厚度(mm) |
0.2 |
0.5 |
0.5 |
1 |
2 |
测头型号 |
N400 |
N1 |
N1/90° |
CN02 |
N10 |
|||||
工作原理 |
涡 流 |
|||||||||
|
0~400 |
0~1250 |
10~200 |
0~10000 |
||||||
低限分辨力(um) |
0.1 |
0.1 |
1 |
10 |
||||||
示 值 误差 |
一点校准(um) |
±(3%H+0.7) |
±(3%H+1.5) |
±(3%H+1) |
±(3%H+25) |
|||||
二点校准(um) |
±[(1~3%H+0.7) |
±[(1~3)%H+1.5] |
___ |
±((1~3)%H+25) |
||||||
测 试 条 件 |
zui小曲率半径(mm) |
凸 |
1.5 |
3 |
平直 |
仅为平直 |
25 |
|||
zui小面积的直径(mm) |
F4 |
F5 |
F5 |
F7 |
F50 |
|||||
基体临界厚度(mm) |
0.3 |
0.3 |
0.3 |
无限制 |
5mm铝箔 |
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