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产品名称:牛津仪器CMI165手持式面铜测厚仪

产品型号:CMI165面铜测厚仪

更新时间:2023-12-02

产品特点:牛津仪器CMI165手持式面铜测厚仪,CMI165®带温度补偿功能的面铜测厚仪 手持式面铜测厚仪,牛津仪器CMI165系列用于测试高/低温的PCB铜箔、蚀刻或整平后的铜厚定量测试、电镀铜后的面铜厚度测量,在PCB钻孔、剪裁、电镀等工序前进行相关铜箔来料检验

CMI165面铜测厚仪牛津仪器CMI165手持式面铜测厚仪的详细资料:

牛津仪器CMI165手持式面铜测厚仪

CMI165®带温度补偿功能的面铜测厚仪 手持式面铜测厚仪,牛津仪器CMI165系列用于测试高/低温的PCB铜箔、蚀刻或整平后的铜厚定量测试、电镀铜后的面铜厚度测量,在PCB钻孔、剪裁、电镀等工序前进行相关铜箔来料检验

牛津仪器CMI165手持式面铜测厚仪厚度测量范围:

化学铜:0.25μm–12.7μm(0.01mils–0.5mils)
电镀铜:2.0μm–254μm(0.1mil–10mil)
线性铜线宽范围:203μm–7620μm(8mil–300mil)
仪器再现性:0.08μm at 20μm(0.003 mils at 0.79 mils)
显示单位:mil、μm、oz
操作界面:英文、简体中文
存 储 量:9690条检测结果(测试日期时间可自行设定)
测量模式:固定测量、连续测量、自动测量模式
统计分析:数据记录,平均数,标准差,上下限提醒功能

特点

应用先进的微电阻测试技术,符合EN14571测试标准。SRP-T1探头由四支探针组成,AB为正极CD为负极;测量时,电流由正极到负极会有微小的电阻,通过电阻值和厚度值的函数关系准确可靠得出表面铜厚,不受绝缘板层和线路板背面铜层影响
耗损的SRP-T1探头可自行更换,为牛津仪器产品
仪器的照明功能和SRP-T1探头的保护罩方便测量时准确定位
仪器具有温度补偿功能,测量结果不受温度影响
仪器为工厂预校准
测试数据通过USB2.0 实现高速传输,可保存为Excel文件
仪器使用普通AA电池供电

配置

CMI165主机
SRP-T1探头
NIST认证的校验用标准片1个

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