CHY-CB测厚仪-塑料薄膜-纸张-铝箔-高精度测厚仪单价41000元，

CHY-CB测厚仪采用接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。
严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制
测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的误差
支持自动和手动两种测量模式，方便用户自主选择
实时显示测量结果的zui大值、zui小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断
配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据*性

CHY-CB测厚仪

CHY-CB测厚仪采用了Labthink研发的嵌入式计算机系统平台，其技术优势和用户体验远超传统的单片机技术。
一体化系统设计，采用嵌入式开发技术将专业的检测设备与控制软件合二为一
控制系统从根本上杜绝了由计算机病毒、误操作等引起的系统软件故障，保证了设备运行的可靠性与数据的安全性
系统搭配标准显示器、鼠标、键盘，采用Windows操作界面，方便用户进行试验操作及数据展示
系统内嵌4个USB接口和2个网口，方便系统的外部接入和数据传输

CHY-CB测厚仪智能

CHY-CB测厚仪搭配了Labthink的操作软件，具有人性化的操作界面和智能化的数据处理功能；同时，在局域网的环境中，还支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告。
传感器标定智能提示，让用户放心使用
软件内嵌电子帮助文档，方便用户随时查阅
系统支持中英文切换，方便不同语言的用户使用
用户多级权限管理，方便实验室管理人员规范设备使用
采用嵌入式数据库存储技术，保存每次试验的详细信息，并提供方便、多样的查询功能，用户可按曲线或数据列表等方式查看历史试验数据
系统支持试验结果比对，用户在试验开始之前设置标准数值和误差范围，试验完成后系统自动判断各个试验结果是否在标准误差范围之内，并直观的告知用户试样是否合格
标定数据恢复功能，有效解决了由误操作带来的不利影响，zui大限度地保证了系统工作的安全性；系统可按用户的方式对关键信息数据进行修复，如各传感器的标定数据恢复操作
通过搭配LystemTM实验室数据共享系统，试验数据与设备信息仅需简单设置与操作即可上报，轻松实现实验室测试数据的集中化和系统化管理
CHY-CB测厚仪测试标准
　　GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

CHY-CB测厚仪应用

基础应用	薄膜薄片	适用于塑料薄膜、薄片的厚度测试
	纸张	适用于纸张、纸板的厚度测试
	箔片、硅片、金属片	适用于箔片、硅片、金属片的厚度测试
	纺织、无纺布材料	适用于纺织材料的厚度测试
	固体电绝缘体	适用于固体电绝缘体的厚度测试
扩展应用	量程扩展至5，10mm	适用于测试薄膜、片材的厚度
	测量头为曲面	满足特殊场合的厚度测试

CHY-CB测厚仪技术指标

测试范围 0～2 mm（标准）；0～6 mm，12 mm（可选）
分辨率 0.1 μm
测量速度 10 次/min （可调）
测试压力 17.5±1 kPa（薄膜）；50±1 kPa（纸张）
接触面积 50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
外形尺寸 461mm（L）×334mm（W）×357mm（H）
电源 AC 220 V 50 Hz
净重 37kg
CHY-CB测厚仪产品配置
CHY-CB测厚仪标准配置主机、显示器、键盘、鼠标、标准量块
CHY-CB测厚仪选购件测量头、配重砝码、打印机（需兼容标准PCL3打印命令语言）、LystemTM实验室数据共享系统