MINITEST 3100 EPK统计型高精度涂镀层测厚仪

MINITEST 3100 EPK统计型涂镀层测厚仪用于测量以下覆层（覆层包括涂层，镀层等）：

•钢铁基体上的非磁性覆层

•有色金属上的绝缘覆层

•绝缘基体上的有色金属覆层

MINITEST 3100 EPK统计型涂镀层测厚仪特点：

所有型号均可配所有探头；

可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机；

可使用一片或二片标准箔校准

MINITEST 3100 EPK统计型涂镀层测厚仪功能

MINITEST3100存储的数据量

应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数) 10

每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计，并可设宽容度极限值) 10可用各自的日期和时间标识特性的组数500

数据总量10000

MINITEST3100统计计算功能

读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar√

读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk√

组统计值六种x,s,n,max,min,kvar√

组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk√

分组打印以上显示和存储的数据和统计值√

显示并打印测量值、打印的日期和时间√

其他功能

透过涂层进行校准(CTC)√

在粗糙表面上作平均零校准√

利用计算机进行基础校准√

补偿一个常数(Offset)√

外设的读值传输存储功能√

保护并锁定校准设置√

更换电池是存储数值√

设置极限值√

公英制转换√

连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别zui大zui小值√

连续测量模式中测量稳定后显示读数√

浮点和定点方式数据传送√

组内单值延迟显示√

连续测量模式中显示zui小值√

MINITEST 3100 EPK统计型涂镀层测厚仪可选探头参数(探头图示)

在选择zui适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能

探头		量程	低端 分辨率	误差	zui小曲率 半径(凸/凹)	zui小测量 区域直径	zui小基 体厚度	探头尺寸
磁 感 应 法	F05	0-500μm	0.1μm	±(1%±0.7μm)	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62mm
	F1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170mm
	F3	0-3000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F10	0-10mm	5μm	±(1%±10μm)	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46mm
	F20	0-20mm	10μm	±(1%±10μm)	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66mm
	F50	0-50mm	10μm	±(3%±50μm)	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70mm
两 用	FN1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm N50μm	φ15x62mm
	FN1.6P	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面	30mm	F0.5mm N50μm	φ21x89mm
	FN2	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm N50μm	φ15x62mm
电 涡 流 法	N02	0-200μm	0.1μm	±(1%±0.5μm)	1/10mm	2mm	50μm	φ16x70mm
	N.08Cr	0-80μm	0.1μm	±(1%±1μm)	2.5mm	2mm	100μm	φ15x62mm
	N1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	2mm	50μm	φ15x62mm
	N1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x13x170mm
	N10	0-10mm	10μm	±(1%±25μm)	25/100mm	50mm	50μm	φ60x50mm
	N20	0-20mm	10μm	±(1%±50μm)	25/100mm	70mm	50μm	φ65x75mm
	N100	0-100mm	100μm	±(1%±0.3mm)	100mm/平面	200mm	50μm	φ126x155mm
	CN02	10-200μm	0.2μm	±(1%±1μm)	平面	7mm	无限制	φ17x80mm

注：F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头，用于管内测量。

N.08Cr适合铜上铬，FN2也适合铜上铬。

CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。

MINITEST 2100 EPK涂镀层测厚仪探头图示

FN1.6

0～1600μm,φ5mm

两用测头，可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属基体上的绝缘覆层

量程低端分辨率很高(0.1μm)

FN1.6P

0～1600μm,φ30mm

两用测头，特别适合测粉末状的覆层厚度

F05

0～500μm,φ3mm

磁性测头，适于测量细小钢铁物体的薄覆层，如金属镀层，氧化层等

量程低端分辨宰很高(0.1μm)

F1.6

0～1600μm,φ5mm

磁性测头

量程低端分辨率很高(0.1μm)

F3

0～3000μm,φ5mm

磁性测头

可用于较厚的覆层

F1.6/90

0～1600μm,φ5mm

90度磁性测头

尤其适合于在管内壁测量

量程低端分辨率很高(0.1μm)

F10

0～10mm,φ20mm

适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等

F20

0～20mm,φ40mm

适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等

F50

0～50mm,φ300mm

适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层

N02

0～200μm,φ2mm

非磁性测头，尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层

量程低端分辨率很高(0.1μm)

N0.8Cr

0～80μm,φ2mm

适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层

N1.6

0～1600μm,φ2mm

非磁性测头，适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层

量程低端分辨率很高(0.1μm)

N1.6/90

0～1600μm,φ5mm

磁性测头，适于测量较薄的绝缘覆层

尤其适合在管内壁测量

量程低端分辨率很高(0.1μm)

N10

0～10mm,φ50mm

非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等

N20

0～20mm,φ70mm

非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等

N100

0～100mm,200mm

非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等

CN02

10～200μm,φ7mm

用于测量绝缘材料上的有色金属覆层，如覆铜板