TT230时代涡流涂层测厚仪

TT230时代涡流涂层测厚仪|氧化膜测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量，比如铝上的氧化膜，所以也叫膜厚仪，膜厚测量仪；TT230时代涡流涂层测厚仪|氧化膜测厚仪是时代集团早先推出的成熟型测厚仪型号之一，无锡君达仪器优惠价格2450.00供应TT230时代涡流涂层测厚仪|氧化膜测厚仪。

TT230时代涡流涂层测厚仪|氧化膜测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。

/

TT230时代涡流涂层测厚仪|氧化膜测厚仪符合以下标准：

GB/T 4957-1985涡流方法

JJG 818-93《电涡流式测厚仪》

JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪

TT230时代涡流涂层测厚仪|氧化膜测厚仪功能特点

采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度
（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）

可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正

具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）

具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)

具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据

设有五个统计量：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差

具有米、英制转换功能

具有打印功能，可打印测量值、统计值

具有欠压指示功能

操作过程有蜂鸣声提示

具有错误提示功能

具有自动关机功能

TT230时代涡流涂层测厚仪|氧化膜测厚仪技术参数

测头类型：N

测量原理：电涡流

测量范围：0-1250um | 0-40um(铜上镀铬)

低限分辨力：1µm(10um以下为0.1um)

探头连接方式：一体化

示值误差：

一点校准(um)：±[3%H+1.5]

两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1.5]

测量条件：

zui小曲率半径(mm)：凸3 |凹10

基体zui小面积的直径(mm)：ф5

zui小临界厚度(mm)：0.3

温湿度：0~40℃| 20%RH～90%RH

统计功能：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差

工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)

测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）

上下限设置：无

存储能力：15个测量值

打印/连接计算机：可选配打印机/能连接电脑

关机方式：自动

电源：二节3.6V镍镉电池

外形尺寸：150×55.5×23mm

重量：150g

TT230涂层测厚仪基本配置

TT230涂层测厚仪主机

铝基体

标准片一套

充电器

使用说明书

有关TT230时代涡流涂层测厚仪|氧化膜测厚仪的详细情况请直接咨询。